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プロトニクス研究所は、業界の先駆けとして1994年に機能性表面改質技術のシンクタンクとして設立致しました。
最新鋭の評価機器、長年の技術データベースをもとに次代を見据え、技術開発を特化させ、様々な産学共同、異業種との共同開発等を進めて参りました。
また、グループの中核として日本プロトンでの生産技術理、環境対策、パテント管理、ユーザー情報等を集約し高機能表面改質技術を提供しております。
表面に一定の水滴を滴下させ、表面に広がる水滴の直径を比較します。水滴と表面の接触角が９０°以上となると撥水性が良く、水滴は表面を転がるようになります。
溶液 ： 純水10µｌ
液下高さ ： 10mm
接触角 ＝ 108°
金属表面状態を10万倍の高倍率で観察することができます。数ミクロンの異物観察が行えます。低真空モードによる絶縁物の表面観察が行えます。
・加速電圧 ： 3.0 ・写真倍率 ： ×20000 ・二次電子像
・金属、非金属材料（プラスチック、セラミック等）表面、皮膜表面などの拡大観察
SEMにて測定した領域における元素（C～U）を定性および定量分析できます。面分析による元素別カラーマッピングが可能です。特定断面での線分上の元素分析が可能です。
・赤色： 炭素 ・オレンジ色： 酸素 ・緑色： フッ素
・黄色： リン ・青色： ニッケル ・紫色： 塩素
・製品に付着、混入した微小異物の分析 ・試料分析、表面元素のカラーマッピング
二物体の接触面に働く摩擦力の大きさから摩擦係数を算出します。
摩擦係数 µ＝Rmax／σ
σ'=垂直に動く応力(gf)
Rmax=面に平行な動きに対する抵抗
（摩擦力）の最大値（gf）
・静摩擦係数（µｓ） ＝ 0.09 ・動摩擦係数（µｋ） ＝ 0.061 ・静摩擦力（Ｆｓ） ＝ 44.8
・動摩擦力（Ｆｋ） ＝ 30.7
・金属、皮膜表面の摩擦係数測定
蛍光X線を利用した元素分析装置で、非破壊、非接触で分析可能です。操作は非常に容易で試料構成元素の定性・定量分析ができます。
微小異物にも威力を発揮する分析装置です。また、多層皮膜、合金皮膜等の膜厚測定、素材成分の成分比率を測定することができます。
Ｎａ～Ｕまでの多元素同時分析が可能です。
・定性分析 ・薄膜FP ・バルクFP ・ルーチン測定
・構成元素の分析、含有量測定 ・皮膜膜厚の測定 ・微小異物の分析
皮膜や金属表面の硬さを測るために、微小硬さ試験機を用います。正四角錐のダイヤモンド圧子を一定の試験荷重で皮膜に押し込み、荷重と生じたくぼみ面積比から硬さを求めます。
Hv＝0.102F／S ＝0.102×2Fsin(θ/2)d
Hv ： ビッカース硬さ
F ： 試験荷重（N）
S ： くぼみの表面積(㎟)
d ： くぼみの対角線の長さの平均(mm)
θ ： ダイヤモンド圧子の対角面(度)
θ＝136°
表面を垂直にある任意の方向で裁断し、この断面に現れる２次元の表面波形情報を定量的に統計処理することにより、物体表面の凹凸程度を数値化します。
・評価長さ ・測定速度 ・カットオフ値 ・フィルタ種別
・測定レンジ ・傾斜補正 ・カットオフ比
・金属素材、機械加工された表面の粗さ測定 ・皮膜表面の粗さ測定
・砥石の粒などによって作られた凹凸表面の測定
従来の顕微鏡では被写体に凹凸がある物では一部分しか焦点が合わなかったものが、全焦点画像が得られることにより、3D合成画像での観察が可能です。また、凹凸の高さ、深さ測定、面積、長さ、角度の計算も出来ます。平面画像では分かりにくかったキズ、異物などが明確に観察出来ます。
・凹凸部、キズ等の高さ、深さ測定
・微小異物等の拡大写真撮影（20～3000倍）
